English E-Posta Öğrenci Bilgi Sistemi EBYS
Yütam
XRD

EXPLORER, yüksek çözünürlüklü difraktometre sistemi, 0.00001°‘lik bir açısal hassasiyete ulaşmasını sağlayan, optik kodlayıcılar tarafından kontrol edilen yüksek verimli, doğrudan tahrikli tork motorları (Direct Drive Torque Motors) içermektedir.

EXPLORER X-Işındifraktometresi’nin hizalamayı gerektirmeyen modüler yapısı sayesinde, toz, ince film, düşük (SAXS)ve geniş(WAXS) açı saçılımı, Stress ve Texture analizleri yapılmaktadır.

  • Rutin kristal faz tanımlama ve miktar tayini ( RIR metodu- Rietveld metodu)
  • Kristalit boyutu / kafes yorgunluğu ve kristalinite hesaplamaları
  • Retained östenit miktarının tayini
  • Polimorf taraması
  • Kristal yapı analizi
  • Residual-stress analizi
  • İnce film analizi
  • Derinlik profili
  • Non-ambient analizleri
  • Faz geçiş analizleri
  • Doku (texture) ve tercihli yönelim (preferred orientation) analizleri
  • Nanopartikül analizleri

ETÜ TANITIM

YUTAM TANITIM

Merkezimiz tarafından hazırlanan 2017 yılı takvimi Devam

VİDEO GALERİ

Erzurum Teknik Üniversitesi ve ARGE Laboratuvar videoları Devam